特點：  
★升溫速度可精確控制，精度達±0.25℃  
★體積小巧，占地空間小  
★無噪聲、無振動、體積小、重量輕  
★支持與各類顯微鏡、光譜儀等光學儀器設備  
★模塊化設計，可根據客戶要求定制  
★無需液氮制冷耗材  
核心特點  
高精度：采用高分辨率光學顯微鏡和精密機械平臺（精度可達微米級），確保探針與微小電極的精準對準。  
模塊化設計：支持多種選配模塊，如溫控系統（-70°C至300°C）、真空環境、射頻（RF）探針、光電測試組件等，滿足多樣化測試需求。  
多探針支持：可配置單針、多針或陣列探針，適應直流（DC）、高頻（HF）或微波測試。  
兼容性強：適配不同尺寸晶圓（2英寸至12英寸）及封裝器件，支持自動化集成（如與SMU、示波器、網絡分析儀等設備聯動）。  
用途：  
半導體冷熱探針臺測試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環境下電學性能，也可用變溫光學測試、變溫電學測試、材料表征等分析。廣泛應用于半導體電學性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD、二維材料測試、電鏡掃描、太陽能電池等行業的制造和研究領等系統中的重要部件。  
探針臺  
http://www.jmant.cn/ParentList-2570532.html  
https://www.chem17.com/st648276/product_39083054.html